130000.00元 | |
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100000 | |
自买家付款之日起3天内发货 | |
无锡光刻 |
特点
⿻ 可测量晶圆薄膜的方块电阻、
电阻率、膜厚、膜厚差等多种
工艺参数。
⿻ 可显示点列图、趋势图、3D 图、
热力图等多种测量结果图示。
⿻ 具备数据管理、数据分析功能。
⿻ 适配多种探针类型满足不同材
质薄膜的测量。
⿻ 温度补偿功能。
⿻ 仪器状态监控。
无锡光刻电子有限公司 | |
李经理 |
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wswabcd2010 | |
15396797186 | |
无 | |
无 | |
无锡市新吴区新洲路228号 | |
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